塗層測厚儀的原理

塗層測厚儀(yi) 的原理

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　　塗層測厚儀(yi) 覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用於(yu) 抽樣檢驗。
    
　　塗層測厚儀(yi) 對材料表麵保護、裝飾形成的覆蓋層，如塗層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關(guan) 國家和國際標準中稱為(wei) 覆層（coating）。

　　覆層厚度測量已成為(wei) 加工工業(ye) 、表麵工程質量檢測的重要一環，是產(chan) 品達到優(you) 等質量標準的必備手段。為(wei) 使產(chan) 品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置複雜昂貴，測量範圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規範。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大於(yu) 3的鍍層測量。電容法僅(jin) 在薄導電體(ti) 的絕緣覆層測厚時采用。

　　隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術後，采用磁性法和渦流法的塗層測厚儀(yi) 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用範圍廣，量程寬、操作簡便且價(jia) 廉，是工業(ye) 和科研使用廣泛的測厚儀(yi) 器。

　　采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。

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