推薦的工業用參考太陽光譜CIE 241和CIE 85的比較

發布於：2022-08-08

地球表麵的太陽光譜

太陽的光譜和強度（或太陽輻射的光譜輻照度）受大氣影響，並取決(jue) 於(yu) 位置和時間。CIE 出版物第 85 號表 4 定義(yi) 了海平麵全球輻射（直接和漫射輻射）的光譜輻照度，此時太陽是垂直的，因此正好被“一個(ge) 大氣”（空氣質量 AM 1.0）過濾。3 月21日中午在無雲(yun) 的一天在赤道的太陽光譜模型（環境參數：臭氧：0.34 atm-cm；水蒸氣：1.42 atm-cm；反照率：0.2；氣溶膠光學深度 - 500 nm 處的 AOD：0.10)。

當輻射被一種大氣過濾時太陽的位置（空氣質量 AM 1.0）

CIE 85 參考太陽

自 1989 年 CIE 出版物第 85 號表 4 出版以來，表 4 一直用作風化中的參考太陽，並用作比較和鑒定人造光源的基礎。例如，CIE 第 85 號出版物在 ISO 4892 和 ISO 16474 係列標準中被引用為(wei) 人造光源以匹配日光條件的目標。然而，這個(ge) 參考光譜有一些限製：

1）光譜數據從(cong) 305 nm 開始，而太陽輻射在 295 nm 和 300 nm 之間截止；

2）數據分辨率差，不一致：5nm從(cong) 305nm到350nm；10 nm 從(cong) 350 nm 到 550 nm 甚至超過 550 nm 的更大間隔；

3) 計算參數已知，但執行計算的編程代碼不再可用。

光譜重新計算：CIE 241

2014 年，CIE 出版物第 85 號表 4 的光譜輻照度分布以更高的分辨率（0.5 nm 至 400 nm 和 1 nm 步長至 1,700 nm）重新計算，並作為(wei) 技術報告 ISO/TR 發布17801。

使用與(yu) 原始 CIE 85 相同的輸入參數和更新的計算模型 (SMARTS 2.9.5) 進行的完整重新計算，於(yu) 2020 年作為(wei) CIE 241 發布，為(wei) 280 nm 至 400 nm 的波長定義(yi) 了 0.5 nm 的間隔， 1.0 nm 到 1,700 nm 的間隔，5 nm 到 4,000 nm 的間隔。

注意：CIE No. 241 僅(jin) 包括 5 nm 分辨率的數據，但 1 nm 分辨率的數據可從(cong) CIE 服務器下載。

CIE No. 241 包含幾個(ge) 計算的光譜輻照度分布。用於(yu) 風化目的的被指定為(wei) “CIE-H1”，現在是 CIE 85:1989 表 4 中先前參考太陽的官方替代品。結果值非常相似，但不完全相同，因為(wei) 較差原始數據的分辨率。ISO 4892-1 和 ISO 4892-3 等常見耐候標準的即將修訂將參考 CIE 241 而不是 CIE 85。由於(yu) 光譜之間的差異很小，與(yu) 人造光源的差異相比，這將沒有技術對測試方法和測試條件的影響。