為什麽要在老化時進行測試

為(wei) 什麽(me) 要在老化時進行測試

    在老化階段進行半導體(ti) 測試之所以有意義(yi) 有多種原因，在探討這些原因之前，我們(men) 首先要明確“測試”的真正含義(yi) 。一般半導體(ti) 測試要用到昂貴的高速自動測試設備，在一個(ge) 電性能條件可調的測試台上對半導體(ti) 作測試。它還可以在標稱性能範圍之外進行，完成功能( 邏輯) 和參數( 速度) 方麵的測試，像信號升降時間之類的參數可精確到皮秒級。也許是因為(wei) 可控測試環境隻有一個(ge) 器件作為(wei) 電性負載，所以信號轉換很快，能夠進行真實的器件響應參數測量。

    但在老化的時候，為(wei) 提高產(chan) 品的產(chan) 量較好是能夠同時對盡可能多的器件作老化。為(wei) 滿足這一要求，可把多個(ge) 器件裝在一個(ge) 大的印刷線路板上，這個(ge) 板稱為(wei) 老化板，它上麵的所有器件都並聯在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和隻測試一個(ge) 器件的小測試台相比，因為(wei) 老化板上的容性和感性負載會(hui) 給速度測試帶來麻煩。所以我們(men) 通常無法用老化進行所有功能測試。不過在某些情況下，運用特殊的係統設計技術在老化環境下進行速度測試也是可能的。

    老化係統中的“測試”可以指任何方麵，從(cong) 對每一器件每一管腳進行基本信號測試，到對老化板上的所有器件作幾乎100% 功能測試，這一切均視器件複雜性及所選用的老化測試係統而定。可以說對任何器件進行100% 功能測試都是可以做得到的，但是這樣采用的方法可能會(hui) 減少老化板上的器件密度，從(cong) 而增加整體(ti) 成本並降低產(chan) 量。

在老化中進行測試的好處有：

    1 ． 將耗時的功能測試移到老化中可以節約昂貴的高速測試儀(yi) 器的時間。如果老化後隻進行參數測試及很少的功能測試，那麽(me) 用現有設備可測試更多器件，僅(jin) 此一點即可抵消因采用老化測試方案而發生的費用。
    2 ．達到預期故障率的實際老化時間相對更短。過去器件進行首批老化時都要先藉由168 小時，這是人們(men) 期望發現所有早期故障的標準起始時間，而這完全是因為(wei) 手頭沒有新器件數據所致。在隨後的半年期間，這個(ge) 時間會(hui) 不斷縮短，直到用實驗和誤差分析方法得到實際所需的老化時間為(wei) 止。在老化同時進行測試則可以藉由檢查老化係統生成的實時記錄及時發現產(chan) 生的故障。盡快掌握老化時間可提高產(chan) 量，降低器件成本。
    3 ．及時對生產(chan) 製程作出反饋。器件故障有時直接對應於(yu) 某個(ge) 製造製程或者某生產(chan) 設備，在故障發生時及時了解信息可立刻解決(jue) 可能存在的製程缺陷，避免製造出大量不合格產(chan) 品。
    4 ．確保老化的運行情況與(yu) 期望相符。藉由監測老化板上的每個(ge) 器件，可在老化一開始時就先更換已經壞了的器件，這樣使用者可確保老化板和老化係統按預先設想的狀況運行，沒有產(chan) 能上的浪費。

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