老化測試係統性能

有許多因素會(hui) 影響老化測試係統的整體(ti) 性能，下麵是一些主要方麵：

    1 ．首先是測試方法的選擇。理想的情況是器件在老化製程上花費的時間最少，這樣可以提高總體(ti) 產(chan) 量。惡劣的電性能條件有助於(yu) 故障加速出現，因此能快速進行反複測試的係統可減少總體(ti) 老化時間。每單位時間裏內(nei) 部節點切換次數越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現得更快。
    2 ．老化板互連性、PCB 設計以及偏置電路的複雜性。老化測試係統可能被有些人稱為(wei) 高速測試，但是，如果機械連接或老化板本身特性會(hui) 削弱信號質量，那麽(me) 測試速度將會(hui) 是一個(ge) 問題。如像過多機電性連接會(hui) 增大整個(ge) 係統的總電容和電感、老化板設計不良會(hui) 產(chan) 生噪聲和串擾、而很差的引腳驅動器設計則會(hui) 使快速信號沿所需的驅動電流大小受到限製等等，這些都僅(jin) 是一部份影響速度的瓶頸，另外由於(yu) 負載過大並存在阻抗、電路偏置以及保護組件值的選擇等也會(hui) 使老化的性
能受到影響。
    3 ．計算機接口與(yu) 數據采集方式。有些老化測試係統采用分區方法，一個(ge) 數據采集主機控製多個(ge) 老化板，另外有些係統則是單板式采集。從(cong) 實際情況來看，單板式方法可以采集到更多數據，而且可能還具有更大的測試產(chan) 量。
    4 ．對高速測試儀(yi) 程序的下載及轉換能力。有些老化測試係統有自己的測試語言，對需要做100% 節點切換的被測器件不用再開發程序；而有些係統能夠把高速測試儀(yi) 程序直接轉換到老化應用上，可以在老化過程中進行更準確的測試。
    5 ．係統提供參數測試的能力。如果老化測試係統能進行一些速度測試，那麽(me) 還可得到其它一些相關(guan) 失效數據以進行可靠性研究，這也有助於(yu) 精簡老化後測試製程。
    6 ．根據時間動態改變測試參數的能力，如電壓與(yu) 頻率。如果老化測試係統能夠實時改變參數，則可以加快通常屬於(yu) 產(chan) 品壽命後期階段故障的出現。對於(yu) 某些器件結構，直流電壓偏置及動態信號的功率變動都可加速出現晚期壽命故障。
    7 ．計算機主機與(yu) 測試係統之間的通訊。由於(yu) 功能測試程序非常長，因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些係統使用較慢的串行通訊，如RS -232C 或者類似協議，而另一些係統則使用雙向並行總線係統，大大提高了數據流通率。

推薦產(chan) 品：鹽霧試驗箱