理學ZSX Primus IV 順序掃描型 X 射線熒光光譜儀(yi) 適用於(yu) 固體(ti) 、液體(ti) 、粉末、合金以及薄膜上的元素分析,可快速定量測出從(cong) Be到U的元素。ZSX Primus III NEXT波長色散型 X 射線熒光光譜儀(yi) 可快速定量測定從(cong) Be到Cm的元素,采用了理學獨特的光路結構,適用於(yu) 工業(ye) 質量控製。

采用 30 微米超薄窗光管,信號強度出類拔萃
X 光管上照射方式,從(cong) 根本上避免粉塵對光管 Be 窗膜的汙染
多達 15 種晶體(ti) 可選 , 可實現 4Be-96Cm 元素的分析
標配 R-θ 可移動樣品台,大幅提高超小樣品分析和 MAPPING 分析的靈敏度
可選 12、24、36、48 和 96 位自動進樣器
可自動建立工作曲線,讓初學者也能輕鬆完成工作曲線的建立
全新 SQX 無標樣分析軟件,1 分鍾內(nei) 完成全元素掃描分析
可選散射線 FP 法功能,讓複雜基體(ti) 分析變得更準確
可選自動化操作軟件,讓儀(yi) 器使用更輕鬆
可接入智能化實驗室,實現無人值守分析
