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能量色散型X射線熒光分析裝置

島津能量色散型X射線熒光分析裝置采用高性能的SDD檢測器,確保硬件更佳化,具有業(ye) 內(nei) 聞名的高靈敏度·高速分析和高分辨率。

  • 型號:EDX-7000/8000/8100
  • 品牌:島津
  • 特點:從輕元素到重元素,全範圍輕鬆應對。與采用傳統SiLi半導體檢測器的分析裝置相比,靈敏度也更勝一籌。
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先進的分析性能

采用高性能的SDD檢測器,確保硬件更佳化,具有業(ye) 內(nei) 聞名的高靈敏度·高速分析和高分辨率。可以檢測出6C~的機型正式上線(EDX-8000/8100)。

① 高性能SDD檢測器和較佳化光學係統組合,與(yu) 以往機型和其它同價(jia) 格帶的競爭(zheng) 產(chan) 品相比具有高靈敏度。

② 由於(yu) SDD檢測器的計數率高,特別是對金屬材料等主要元素產(chan) 生X射線熒光較多的樣品進行分析時,可大幅度縮短檢測時間。

③ 能量分辨率提高,使得以前難以分離的毗鄰元素峰值可以分離。


高靈敏度 –提高檢測下限1.5~5倍

高性能的SDD檢測器與(yu) 更佳化的光學係統和一次濾光片的組合,實現業(ye) 內(nei) 聞名的高靈敏度。

從(cong) 輕元素到重元素,全範圍輕鬆應對。與(yu) 采用傳(chuan) 統Si(Li)半導體(ti) 檢測器的分析裝置相比,靈敏度也更勝一籌。



高速 –分析速度最大可提高10倍

SDD檢測器在單位時間內(nei) X射線熒光的計數率高,因此能夠在更短的檢測時間內(nei) 進行高精度分析。特別是對金屬材料的分析,這個(ge) 特點可以得到更大限度的發揮。



X射線熒光分析可以通過延長測定時間增加X射線熒光的計數從(cong) 而提高精度(重現性)。搭載高計數率SDD檢測器的EDX-7000/8000/8100與(yu) 以往型號相比,能夠在更短的時間內(nei) 保證分析精度。



滿足分析精度所需的檢測時間



高分辨率

與配置以往Si(Li)半導體檢測器的型號相比,能量分辨率更勝一籌。不同元素峰值重疊的影響減小,提升可靠性。

能量分辨率的比較(樣品:PPS樹脂)


強大的通用性

① 下照射型的本機上配備可切換的10,5,3,1mmφ4種不同照射直徑的準直器,靈活應對從(cong) 大型樣品到微小異物,從(cong) 液體(ti) 樣品到粉末樣品。

② 配備CCD樣品觀察裝置,對微小樣品進行觀察或者使用微量樣品容器時,可準確決(jue) 定樣品位置。另外,樣品圖像可以自動保存,用於(yu) 分析報告中。

③ 配備5種一次濾光片,可應對更廣的元素進行高靈敏度分析。

④ 真空及氦氣置換檢測單元,全方位應對輕元素的高靈敏度分析。

⑤ 配置樣品轉台,實現可自動連續測定。

無需液氮

SDD檢測器為(wei) 電子製冷方式,無需液氮冷卻。不僅(jin) 可以從(cong) 繁瑣的液氮補充作業(ye) 中解放出來,更可以降低儀(yi) 器的維護成本。


檢測元素範圍

· 用EDX-7000/8100進行15P以下的輕元素分析時,需要真空檢測單元或者氦氣置換檢測單元(均為(wei) 選購件)。· 用EDX-8000進行15P以下的輕元素分析時,需要真空檢測單元(選購件)。


EDX-8000/8100進行超輕元素分析

EDX-8000/8100搭載的SDD檢測器窗口采用極薄的薄膜特殊材料,能夠檢測碳(C)、氧(O)、氟(F)超輕元素。

滿足分析精度所需的檢測時間


用EDX-8100檢測氟元素的分析結果

從初學者到專家都可輕鬆上手的操作軟件

① 標準配備了PCEDX-Navi軟件,畫麵淺顯簡單,可應對照射直徑的選擇和轉台的設定,更可輕鬆啟動儀(yi) 器,具有X射線管的自我保護功能。 

② 可以以Excel格式或HTML格式製作分析報告及數據報告,內(nei) 置多種模板。

③ 專(zhuan) 用選購件可以應對RoHS、無鹵素的篩選分析。內(nei) 置工作曲線,儀(yi) 器管理更加簡便。

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