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SPECIM FX120熱成像推掃型高光譜成像係統

Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外LWIR高光譜相機，支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。

  • 型號:SPECIM FX120
  • 品牌:Specim
  • 特點:Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外 LWIR 高光譜相機，支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。
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產品簡介

Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統是一款長波紅外 (LWIR) 高光譜相機，支持7.7至12.3 μm的全光譜範圍。這款熱推掃型HSI相機具有出色的光譜和空間成 像性能，非常適合礦產(chan) 勘探、環境分析、熱異常檢測以及安全與(yu) 安保應用。利用SisuRock 工作站，Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統可實現快速、準確的岩芯掃描。

Specim FX120熱成像推掃型高光譜成像係統

產品特點

7.7至12.3 μm光譜範圍

160個(ge) 光譜波段

616個(ge) 空間像素

240FPS的高圖像速度（1 ms 曝光時間）

高信噪比

GigE Vision標準接口

可自由選擇的多感興(xing) 趣區域 (MROI)

小巧堅固且可轉移

產品優勢

全LWIR光譜範圍：用於(yu) 檢測礦物、氣體(ti) 和熱異常等對象

高幀率和高信噪比：可實現準確分類以及高成像速度和吞吐量

堅固小巧且可轉移：便於(yu) 輕鬆安裝到現有係統和各種操作環境中

易於(yu) 集成：可通過標準GigE Vision 接口與(yu) 商業(ye) 分析軟件通信

與(yu) SisuRock 兼容：利用 SisuRock 工作站實現快速、準確的岩芯掃描

高度均勻和滿阱容量：可捕捉詳細且準確的信息

產品技術參數

產品型號SPECIM FX120熱成像推掃型高光譜成像係統
光譜範圍7.7 - 12.3 μm
光譜分辨率 (FWHM)100 nm
光譜采樣/像素30 nm
不進行合並
光譜波段數量160
數值孔徑2
光學放大倍率0.5
有效像素大小30 μm
在前鏡頭圖像平麵上
有效狹縫寬度104 μm
在前鏡頭圖像平麵上
有效狹縫長度18.5 mm
在前鏡頭圖像平麵上
動態範圍 - 反射率測量4000:1 (1.5ms)；6000:1 (0.2ms)
最大真實信號/暗噪聲
最大信噪比 - 反射率測量2500:1 (1.5ms)；3000:1 (0.2ms)
最大真實信號/信號噪聲
最大信噪比 - 發射測量500
300 K 目標；對點大小進行平均
空間像素數616
位深16
最大幀率240 FPS
默認合並全影像和1 ms曝光時間
合並1、2、4 光譜和空間
默認設置：2光譜 x 1空間像素
ROI可自由選擇的多感興趣區域
ROI 的最小高度為兩個未 binning 的行。最大幀率由第一個 MROI 的第一
行和最後一個 MROI 的最後一行之間的總行數以及 MROI 中包含的總行
數決定。
可用像素比例>= 96 %
圖像校正非均勻性校正
壞像素替換
自動圖像增強 (AIE)
單點 NUC
AIE：統一光譜標定 + Smile 和 Keystone 畸變校正
傳感器材料MCT
集成冷卻器Stirling
滿阱容量20 Me-
讀出模式ITR
光學溫度TEC 穩定
默認為 20 攝氏度
鏡頭接口定製接口
前透鏡選項OLEL43、OLEL32
視場角24 度、32 度
相機數字數據輸出/控製接口GigE Vision、自定義以太網
相機控製協議GenICam、JSON-RPC
電源輸入24 V DC
功耗150 W
在光學器件和探測器同時冷卻期間
接口以太網
輔助
功率
觸發輸入
觸發輸出
IP 等級IP40
尺寸（長 x 寬 x 高）250 mm x 300 mm x 220 mm
兩側均提供安裝表麵選項。安裝套件在安裝側增加了 24 mm 的距離。
重量15 kg
存儲溫度-20 ... +50 oC
工作溫度+5 ... +40 oC
相對濕度5% – 95%（無冷凝）

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