X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀(yi) NEX QC是低成本能量色散X射線熒光（EDXRF）分析儀(yi) ，用於(yu) 固體(ti) 、液體(ti) 、粉末、合金和薄膜的元素分析。

作為(wei) 一款低成本的台式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀(yi) ，Rigaku理學NEX QC熒光光譜儀(yi) 在堅固的包裝中提供廣泛的元素覆蓋，配備易於(yu) 學習(xi) 的軟件界麵，專(zhuan) 為(wei) 工業(ye) 現場質量控製應用而設計。能夠非破壞性地分析幾乎任何基體(ti) 中的元素，從(cong) 鈉（Na）到鈾（U），包括固體(ti) 、合金、粉末、液體(ti) 、漿料和薄膜。

產品優勢

具有智能手機界麵的直觀軟件

Rigaku提供的硬化高分辨率觸摸顯示屏，薄膜鍵盤和落後的顯示屏現已成為(wei) 過去。操作NEX QC係列元素分析儀(yi) 給人以熟悉的感覺，可用手指選擇的圖標能夠引導用戶完成常規分析操作。智能手機界麵技術降低了擁有成本，因為(wei) 它簡化了操作員培訓並減少了操作員出錯的可能性。

矽漂移檢波器技術

矽漂移檢波器(SDD)可實現極高的計數率，並具有出色的光譜分辨率。這使NEX QC+能夠在盡可能短的測量時間內(nei) 提供最高精度的分析結果。SDD獨特的工程特征是一係列環形電極生成的模截場，它會(hui) 迫使電荷載體(ti) “漂移”到一個(ge) 小集電極處。電流生成SDD檢波器將場效應晶體(ti) 管(FET)移動到輻射軌跡外，代表了傳(chuan) 統EDXRF檢波器技術的最尖端水平。

計算敏捷性

除了具有極強的易用性外，每個(ge) RigakuNEX QC係列元素分析儀(yi) 還有運行在嵌入式計算機上的精密軟件為(wei) 其提供支持。經驗校準曲線可以是線性、二次或雙曲線擬合。此外，為(wei) 了補償(chang) 其他元素的存在，還可以啟用基於(yu) 強度或濃度的阿爾法(α)校正（在有足夠的標準樣時自動計算）。還提供有C/H校正，以補償(chang) 輕元素矩陣變化和/或平均原子數變化。所有的校準功能都可以通過用手指觸摸直觀的圖標進行訪問。提供可選的基本參數(FP)包。

X射線光學器件

NEX QC係列采用50kVX射線管和帕爾貼製冷的半導體(ti) 檢測器技術，可提供卓越的短期重複性和長期重複性，具有優(you) 異的元素峰分辨率。高電壓，以及多個(ge) 自動X射線管過濾器，提供了多元素分析能力，實現無與(yu) 倫(lun) 比的性能與(yu) 最小檢測量(LOD)。光學器件由無需工具便可更換的安全膜保護。

X射線管的保護

通過僅(jin) 在數據收集過程中操作，將X射線管的磨損減到最低—從(cong) 而降低運營成本。

基本參數選項

顯著減少了實施高質量校準所需的標準樣數量；這在難以獲得標準樣或者許多元素獨立變化的複雜基質情況下特別有用。

內(nei) 置打印機

熱敏打印機可以在您需要時隨時隨地提供快速的打印分析結果。

免工具安全膜

不需要使用工具便可更換安全膜，從(cong) 而保護了光學內(nei) 核並簡化和加快了更換過程。

可拆卸的樣品盤

可預先加載以及調入和調出可互換的選配自動進樣器托盤，以提高效率或在吞吐量是重要考量的情況下使用。支持32mm和40mm杯。

單一位置或自動進樣器

標準的單一位置配置可以添加一個(ge) 選配的自動進樣器。

工作原理

在X射線熒光法(XRF)中，X射線管吸收光（光子）會(hui) 使電子從(cong) 其原子軌道中射出。光子的能量(hν)必須大於(yu) 電子與(yu) 原子核結合的能量。當內(nei) 軌道電子從(cong) 原子中射出時（中間圖像），更高能級軌道的電子會(hui) 進行轉移以填補空出的軌道。轉移過程中可能會(hui) 射出光子（右側(ce) 圖像）。由於(yu) 特定元素兩(liang) 個(ge) 特定軌道殼之間的能量差始終相同，因此射出的光子始終具有相同的特征能量(keV)。對熒光發射譜線而言，給定元素單位時間光子數（每秒計數，簡稱cps）與(yu) 樣品中該元素的含量有關(guan) 。通過測量規定時間內(nei) 觀測到的各種元素X射線熒光譜線所檢測到的光子數（光譜峰數）來計算計數率。因此，定性和定量元素分析通過測定樣品光譜中X射線峰的能量以及測量它們(men) 的相關(guan) 計數率來實現。

應用行業