電子掃描顯微鏡

產品介紹

ZEM係列台式掃描電鏡能譜一體(ti) 機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體(ti) 積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環境，隻需找一張桌子，供電即可工作。

產品特點

桌麵級掃描電鏡

 ZEM係列掃描電鏡是桌麵級掃描電子顯微鏡，具有體(ti) 積小巧、移動便捷、維護方便、環境適應能力強等優(you) 點。

全中文操作界麵

ZEM係列掃描電鏡采用全中文交互係統，界麵簡潔清晰，功能豐(feng) 富全麵，操作方便快捷。

光學導航功能

ZEM係列掃描電鏡內(nei) 置光學攝像頭，進樣時拍攝導航圖片，鼠標點擊導航圖片任意位置，樣品台即會(hui) 實時連動導航，快速找到樣品對應的區域。

360° 自由旋轉

ZEM係列掃描電鏡擁有便捷的電子束旋轉功能，隻需上下滑動鼠標滾輪，便可實現全角度觀察。

預對中鎢燈絲(si)

ZEM係列掃描電鏡采用預對中鎢燈絲(si) , 自帶韋氏帽，燈絲(si) 已做好預對中，並已發射驗證，降低燈絲(si) 更換難度。

電動樣品台 

ZEM係列掃描電鏡提供兩(liang) 軸、 三軸、 五軸樣品台，可實現多個(ge) 軸的運動和組合，靈活性高，為(wei) 測試樣品提供更為(wei) 精準的位置坐標，方便精確的測定樣品。

低真空模式

ZEM係列掃描電鏡可選配低真空模式，可在1-60Pa自由切換。對於(yu) 不導電樣品可不噴金快速檢測，避免噴金對部分樣品表麵形貌，能譜（EDS）測試的影響與(yu) 幹擾。

減速模式

ZEM係列掃描電鏡可選配減速模式，對於(yu) 導電性較差的樣品可不噴金，通過減速模式快速檢測，發揮低電壓觀察樣品表麵細節的優(you) 勢。

80mm2 四分割背散射電子探測器 

ZEM係列掃描電鏡標配四分割背散射電子探測器，總活性麵積達80mm² ，四個(ge) 象限可單獨或組合成像，提供多種成像模式。

SE/BSE圖像，可任意比例混合成像

ZEM係列掃描電鏡，可同時采集SE及BSE圖像，可任意比例混合成像，使圖像信息更加豐(feng) 富。

牛津 / 布魯克能譜分析

能譜儀(yi) （EDS）主要是用來對材料微區元素組成進行定性，半定量分析的一種掃描電鏡功能附件。ZEM係列掃描電鏡預留第三方主流能譜儀(yi) 廠家接口，滿足用戶的不同選擇。

產品型號

ZEM18

ZEM20

ZEM15C

應用行業

電子半導體(ti) /工業(ye) 檢測

功能無機材料/化工

科研教學/生命科學

新能源材料/其它